發布時間:2022-08-30 來源:天銳星通科技 瀏覽:
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相控陣天線測試場的選擇
——天銳星通的七年實踐
● 待測天線復雜:由輻射陣面與半導體射頻電路、電源系統、數字信號控制系統等高度集成一體;
● 測試任務量大:需要將頻點、剖面、掃描角度、加權狀態等測試因素排列組合,每臺天線往往有多達數千張方向圖的測試量;
● 測試項目多:除了輻射方向圖需要測試,有源部分(半導體集成電路)的性能、數字控制與供電部分的性能也需要一并測試,如EIRP值、G/T值、有源增益、甚至是ACPR、EVM等指標;
● 測試控制復雜:需要將天線的波束狀態與產品供電、測量儀器、轉臺位置密切配合、同步進行,控制系統復雜;
● 測試數據龐大:每臺天線測量得到的都是海量數據,對數據的處理分析,對產品參數指標的評估,是一件費時耗力的大工程。
研制歷程
丨近場:多個關鍵性能指標測量難度大
● 收發隔離、指向精度、EIRP、G/T等“宏觀”性能難以測量;
● 功率穩定性、波束切換時間等時效性指標難以測量;
● EVM、調制解調等不能實現測量。
方便履蓋相控陣全向天線全指數公式測驗意愿,“更舉例子地實行校正”,201六年初我們公司又逐漸開始網站建設遠場測驗軟件。丨遠場:無法滿足電大尺寸天線測量需求
丨緊縮場:提供面向未來的全能測試環境
關鍵技術特點
丨高精度測試技術
● 高性能反射面設計:采用卷邊設計,抑制低頻波繞射;采用高精度加工,型面精度優于20um(實測為10.8um),可匹配110GHz以上頻率測量;反射面總體使用效率達到50%~60%,靜區幅度錐削≤1 dB,幅度紋波≤±0.5 dB,相位波動≤±5°(實測均優于此標準)。
● 系統自檢功能:通過系統鏈路自校準設計,保障了測試場地的準確可靠,為EIRP和G/T等絕對測試提供基礎。
● 校準補償:通過安裝誤差補償技術,保障相控陣天線幅相校準、指向精度等高精度測試。
● 大數據處理:通過大數據分析,縮減測試的波動性,提高制造測量一致性水平。
丨基于硬件觸發的快速測試技術
丨自動化技術
相控陣天線測試場建設建議
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● 建設近場測試系統,用于陣面診斷和三維方向圖測量(研發階段);
● 建設遠場測試系統,用于系統級測試,比如多目標測試,目標移動測試等(研發階段);
● 建設緊縮場測試系統,用于相控陣天線全指標測量,滿足研發驗證為主的測試需求(研發階段);
● 建設半自動化緊縮場測試系統,用于相控陣天線基本指標的快速測量,滿足小批量試制為主的測試需求(試制階段);
● 建設全自動化緊縮場測試系統,用于相控陣天線批量生產測量,滿足大批量生產為主的測試需求(量產階段)。
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